深圳德諾嘉電子有限公司為您提供ic測試座定制 bga272老化座 測試座 flash清空座,。bga272-0.8雙面彈翻蓋老化座
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描述；bga272翻蓋彈片老化座是我公司為了flash行業(yè)研發(fā)的低成本,，下壓結(jié)構(gòu)節(jié)省測試環(huán)境空間,，適合大批量老化測試！成為成本低的測試方案,，該產(chǎn)品采用弓形彈片結(jié)構(gòu),，這種結(jié)構(gòu)加上進(jìn)口鈹銅鍍金有-的伸縮性能，特殊的月牙形針頭,，更可以做到日本等品牌測試座做不到重要的特點：我們的可以有球無球殘球均可測試,！而其他品牌只能測試新的有球的芯片。我們市場大部分flash產(chǎn)品的測試都是采用我們公司定義的emmc標(biāo)準(zhǔn)腳位,，為客戶節(jié)約很多成本！另外我公司有tsop48雙觸點測試座,，bga107/100/132/137/149/152/169/162/lga52\60各類轉(zhuǎn)dip48/sd/usb接口測試座
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