超聲波掃描顯微鏡)無(wú)損檢測(cè)

超聲掃描顯微鏡是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。在工作中采用反射或者透射等掃描方式來(lái)檢查材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),，雜質(zhì)顆粒,、夾雜物、沉淀物,、內(nèi)部裂紋,、分層缺陷、空洞,、氣泡,、空隙等。< br />;< br />;著作權(quán)歸作者所有,。

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超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體電子行業(yè)：  半導(dǎo)體晶圓片,、封裝器件、大功率器件igbt,、紅外器件,、光電傳感器件,、smt貼片器件、mems等,；  材料行業(yè)：復(fù)合材料,、鍍膜、電鍍,、注塑,、合金、超導(dǎo)材料,、陶瓷,、金屬焊接、摩擦界面等,；生物醫(yī)學(xué)：細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究,、骨骼、血管的研究等,。 超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式：基于超聲波脈沖反射和透射模式工作的,。反射模式是主要的工作模式，它的特點(diǎn)是分辨率高,，對(duì)待測(cè)樣品厚度的沒(méi)有-,。透射模式只在半導(dǎo)體企業(yè)中用作器件篩選。