一六儀器 測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集，-efp算法  x射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,，led和照明,，家用電器，通訊,，汽車電子領(lǐng)域.efp算法結(jié)合-定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

薄膜是指在基板的垂直方向上所堆積的1～104的原子層或分子層,。在此方向上,，薄膜具有微觀結(jié)構(gòu)。

     理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之間的距離,。由于薄膜僅在厚度方向是微觀的,，其他的兩維方向具有宏觀大小。所以,，表示薄膜的形狀,，一定要用宏觀方法，即采用長,、寬,、厚的方法。因此,，膜厚既是一個(gè)宏觀概念,，又是微觀上的實(shí)體線度。

      由于實(shí)際上存在的表面是不平整和連續(xù)的,，而且薄膜內(nèi)部還可能存在著---,、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等,，所以,，要嚴(yán)格地定義和測(cè)量薄膜的厚度實(shí)際上是比較困難的。膜厚的定義應(yīng)根據(jù)測(cè)量的方法和目的來決定,。  

-模型認(rèn)為物質(zhì)的表面并不是一個(gè)抽象的幾何概念,，而是由剛性球的原子分子緊密排列而成，油漆測(cè)厚儀,，是實(shí)際存在的一個(gè)物理概念,。

形狀膜厚：dt是接近于直觀形式的膜厚，漆膜測(cè)厚儀,，通常以u(píng)m為單位,。dt只與表面原子分子有關(guān)，并且包含著薄膜內(nèi)部結(jié)構(gòu)的影響,；

膜厚：dm反映了薄膜中包含物質(zhì)的多少,，通常以μg/cm2為單位，它消除了薄膜內(nèi)部結(jié)構(gòu)的影響如缺陷,、---,、變形等；

物性膜厚：dp在實(shí)際使用上較有用,，而且比較容易測(cè)量，它與薄膜內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部結(jié)構(gòu)無直接關(guān)系,，主要取決于薄膜的性質(zhì)如電阻率,、透射率等,。