江蘇一六儀器 pcb板材 線路板大板件類(lèi)x熒光光譜測(cè)厚儀
元素分析范圍:氯ci--u
厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
---同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素
膜厚儀光學(xué)監(jiān)1控是高精致鍍膜的的首1選監(jiān)1控方式,,這是因?yàn)樗軌蚋鼫?zhǔn)確地把持膜層厚度(如果利用切當(dāng)),。精1確度的改進(jìn)源于很多因素,但基礎(chǔ)的起因是對(duì)光學(xué)厚度的監(jiān)1控,。對(duì)單波長(zhǎng)光學(xué)監(jiān)1控體系,,是采用間接測(cè)控,結(jié)合光學(xué)監(jiān)1控軟件,,膜厚儀廠家,,有效提高光學(xué)反應(yīng)對(duì)膜厚度變革靈敏度的實(shí)際跟措施來(lái)減少終1極誤差,供應(yīng)了反饋或傳輸?shù)臎Q定模式跟大范圍的監(jiān)測(cè)波長(zhǎng),。-適合于各種膜厚的鍍膜監(jiān)1控包括非規(guī)整膜監(jiān)1控,。
江蘇一六儀器 涂層鍍層厚度檢測(cè) 歡迎來(lái)電詳詢
電子元件測(cè)厚儀
---同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素
厚度di檢出限:0.005um
xiao測(cè)量面積:0.002m㎡
對(duì)焦距離:0-90測(cè)試凹槽,,膜厚儀,,可變焦
樣品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
儀器尺寸:550mm*480mm*470mm
儀器重量:55kg
影響膜厚儀測(cè)量的的客觀因素
應(yīng)力的影響。在役設(shè)備,、管道大部分有應(yīng)力存在,,固體材料的應(yīng)力狀況對(duì)聲速有一定的影響,當(dāng)應(yīng)力方向與傳播方向一致時(shí),,若應(yīng)力為壓應(yīng)力,,膜厚儀維修,則應(yīng)力作用使工件彈性增加,,聲速加快,;反之,若應(yīng)力為拉應(yīng)力,,則聲速減慢,。當(dāng)應(yīng)力與波的傳播方向不一至?xí)r,,膜厚檢測(cè)儀,膜厚儀波動(dòng)過(guò)程中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)軌跡受應(yīng)力干擾,,波的傳播方向產(chǎn)生偏離,。根據(jù)資料表明,一般應(yīng)力增加,,聲速緩慢增加,。
江蘇一六儀器 鍍飾,首飾類(lèi)鍍層分析通用型膜厚儀
-勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品,。
無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),,凹槽-范圍0-90mm。
微-射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,,可測(cè)試各微小的部件,。
jie shou qi:即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性,。
精密微型滑軌:快速定位樣品,。
efp算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒efp算法軟件,。
選擇膜厚測(cè)量?jī)x常用的兩種方法
一個(gè)兩用薄膜厚度測(cè)試儀
該儀器由德國(guó)制造,,并建立了磁性測(cè)厚儀和電渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能。它可用于測(cè)量鐵和有色金屬基體上的涂層厚度,。
例如:1.涂層厚度,,如銅、鉻或鋅,,鋼或油漆,、油漆、搪瓷等,。
2.鋁和鎂材料陽(yáng)極氧化膜的厚度,。
3.銅、鋁,、鎂,、鋅等有色金屬材料的鍍層厚度。
4.鋁箔,、銅帶,、紙和塑料薄膜厚度,用于鋁,、銅和金,。
5.各種鋼材和有色金屬材料的熱噴涂涂層厚度。
6.該儀器符合-gb/t49 56和gb/t49 57標(biāo)準(zhǔn),,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn),、滄州歐譜驗(yàn)收及---檢驗(yàn),。
7.雙功能內(nèi)置探頭用于自動(dòng)識(shí)別鐵基或有色金屬基體材料,并采用相應(yīng)的測(cè)量方法進(jìn)行jing確測(cè)量,。
8.人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示結(jié)構(gòu),,它可以讀取測(cè)量數(shù)據(jù)在任何測(cè)量位置。
9.使用手機(jī)菜單功能選擇方法,,操作非常簡(jiǎn)單。
10.當(dāng)設(shè)置上限和下-,,測(cè)量結(jié)果超過(guò)或符合上限和下限,,電火花檢漏儀的儀器將發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍光。
11.穩(wěn)定性-,,可以長(zhǎng)期使用而不進(jìn)行校正,。
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