高溫條件下陶瓷電容器擊穿機(jī)理：

半密封陶瓷電容器在高濕度環(huán)境條件下工作時(shí),，發(fā)生擊穿失效是比較普遍的---問題。由于陶瓷電容器銀的遷移,，陶瓷電容器的電解老化擊穿已成為相當(dāng)普遍的問題,。熱擊穿現(xiàn)象多發(fā)生在管形或圓片形的小型瓷介質(zhì)電容器中,，因?yàn)閾舸�時(shí)局部------,，較薄的管壁或較小的瓷體容易燒毀或斷裂。

潮濕對電參數(shù)惡化的影響：

空氣中濕度過高時(shí),，水膜凝聚在電容器外殼表面,，可使電容器的表面絕緣電阻下降。此外,，對于半密封結(jié)構(gòu)電容器來說,，水分還可滲透到電容器介質(zhì)內(nèi)部，使電容器介質(zhì)的絕緣電阻絕緣能力下降,。

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向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓,，會導(dǎo)致短路故障還是開路故障　　

一般來說,，向電容器施加過量電壓后都會導(dǎo)致短路故障,。片狀獨(dú)石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞,。

但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓,，則不在保修范圍之內(nèi)。

電容器的電壓加速和溫度加速　　

通過電壓加速與溫度加速系數(shù)可推算出電容器的使用壽命,�,？蓪�產(chǎn)品使用時(shí)的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數(shù)進(jìn)行公式化。 一般來說,，cbb28電容,，阿列紐斯法則被廣泛用于加速公式中，而我們運(yùn)用以下公式便可簡單地進(jìn)行推算,。 47_01cn.png 在此公式的基礎(chǔ)上,，通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進(jìn)行加速試驗(yàn),，可推算出產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下的使用壽命,。 在此，薄膜電容,，我們一起來比較一下獨(dú)石陶瓷電容器的加速試驗(yàn)與實(shí)際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境,。我們將電容器的加速試驗(yàn)---耐久試驗(yàn)時(shí)間視為la，廣西電容,，將實(shí)際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為ln,，用于上述公式。 耐久試驗(yàn)條件 假定使用環(huán)境 電壓加速系數(shù) 溫度加速系數(shù) 相應(yīng)年限 ta＝85°c va＝20v la＝1000h tn＝65°c vn＝5v n＝4 θ＝8 ln＝,？h 這樣,，我們即可通過在85°c、施加20v電壓的環(huán)境下進(jìn)行了1000h的耐久試驗(yàn),，推算出在5°c,、施加5v電壓的環(huán)境下產(chǎn)品使用年限為1448155h(≒165年！),。計(jì)算中使用的電壓加速系數(shù),、溫度加速系數(shù)會由陶瓷材料的種類及構(gòu)造產(chǎn)生不同，但通過加速計(jì)算公式可在相對較短的時(shí)間內(nèi)利用試驗(yàn)結(jié)果來驗(yàn)證長時(shí)間的實(shí)際使用環(huán)境中的產(chǎn)品使用壽命,。