江蘇一六儀器 x射線熒光光譜測(cè)厚儀
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),,重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,,-測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),,電鍍膜厚儀,鼠標(biāo)---的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果-
-的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,,日照測(cè)厚儀,,24種元素 厚度檢出限:0.005um
工業(yè)x射線鍍層厚度分析儀以其快速、無(wú)損,、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn),,已在冶金、建材,、地質(zhì),、、商檢,、考古,、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用。近幾年來(lái)x射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測(cè)量中應(yīng)用越來(lái)越廣泛,。眾所周知,,光譜分析儀,產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品與性能相關(guān)的重要指標(biāo),。實(shí)驗(yàn)表明使用同位素x射線熒光分析方法,,能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求,并且具有無(wú)損,、在線,、簡(jiǎn)便快速、可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制等特點(diǎn),。
江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發(fā),、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū),。我們-研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),,經(jīng)與海內(nèi)外多名---通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散x熒光光譜儀
x熒光鍍層測(cè)厚儀金屬成分含量的測(cè)定
在包含某種元素1的樣品中,,照射一次x射線,,就會(huì)產(chǎn)生元素1的熒光x射線,膜厚測(cè)試儀,,不過(guò)這個(gè)時(shí)候的熒光x射線的強(qiáng)度會(huì)隨著樣品中元素1的含量的變化而改變,。元素1的含量多,熒光x射線的強(qiáng)度就會(huì)變強(qiáng),。注意到這一點(diǎn),,如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光x射線強(qiáng)度,就可以推算出樣品中元素1的含量,。采用定量分析的時(shí)候,,可以在樣品中加入高純度的二氧化硅,作為參比樣,,并且摻量是已知的,。這樣可以間接知道其他組分的含量。
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