技術(shù)要求
3.1整體技術(shù)指標(biāo)
3.1.1 功能與測(cè)試對(duì)象
*1功能
gbt模塊動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試。
*2測(cè)試對(duì)象
被測(cè)器件igbt模塊動(dòng)態(tài)參數(shù),。測(cè)試溫度范圍 tj=25°及125°,。
3.1.2 igbt模塊動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)及指標(biāo)
測(cè)試單元對(duì)igbt模塊和frd的動(dòng)態(tài)參數(shù)及其他參數(shù)的定義滿足iec60747-9以及iec60747-2。
以下參數(shù)的測(cè)試可以在不同的電壓等級(jí),、電流等級(jí),、溫度、機(jī)械壓力,、回路寄生電感以及不同的驅(qū)動(dòng)回路參數(shù)下進(jìn)行,。
大功率半導(dǎo)體器件為何有老化的問題?
任何產(chǎn)品都有設(shè)計(jì)使用壽命,,同一種產(chǎn)品不同的使用環(huán)境和是否得到相應(yīng)的維護(hù),,便攜式igbt測(cè)試儀,延長產(chǎn)品使用壽命和設(shè)備-運(yùn)行具有-重要,。功率元件由于經(jīng)常有大電流往復(fù)的沖擊,,對(duì)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)均具有一定的耗損性及破壞性,便攜式igbt測(cè)試儀批發(fā),,若其工作狀況又經(jīng)常在其安全工作區(qū)的邊緣,,便攜式igbt測(cè)試儀價(jià)格,更會(huì)加速元件的老化程度,,故元件老化,,就如人的老化一樣是不可避免的問題。若元件的工作條件超過其參數(shù)數(shù)據(jù),,元件可能會(huì)-燒毀或造成性的損壞。
1可調(diào)充電電壓源
用來給電容器充電,,實(shí)現(xiàn)連續(xù)可調(diào)的直流母線電壓,,滿足動(dòng)態(tài)測(cè)試、短路電流的測(cè)試需求,。
?輸入電壓380v±10%
?頻率50hz,;
?輸出電壓500~1500v可調(diào)可多個(gè)電源組成
?輸出電流10a;
?電壓控制精度1%
?電壓調(diào)整率<0.1%,;
?紋波電壓<1%,;
?工作溫度室溫~40℃;
?保護(hù)有過壓,、過流,、短路保護(hù)功能。
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