深圳市杰瑞試驗(yàn)設(shè)備有限公司為您提供xrf涂層厚度測量。xrf涂層厚度測量將的樣品室和的xy平臺相結(jié)合,。對于大的鍍件,，l系列是---品。大樣品臺和xy行程可實(shí)現(xiàn)大鍍件的多點(diǎn)測量,。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"lxwxh的樣品,。xy平臺的行程為13"x10"。
　　標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個4位置多準(zhǔn)直器組件，以及一個可在凹陷區(qū)域進(jìn)行測量的變焦相機(jī),。 與其他型號一樣,，準(zhǔn)直器尺寸和焦距可根據(jù)不同的客戶應(yīng)用進(jìn)行定制。 包括可編程的xy平臺,，為了滿足樣品測測量,，xy平臺可以移除。探測器采用硅pin半導(dǎo)體探測器,，可升級為---sdd探測器,。
　　13號鋁元素到92號---元素
　　50 w50kv和1ma微---射線管
　　5層，每層可分析10種元素,，成分分析至多可分析25種元素
　　4位置一次過濾器/4種規(guī)格準(zhǔn)直器
　　可變焦
　　4096 多通道數(shù)字處理器,，自動死時間和逃逸峰校正
　　英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2ghz), 8gb ddr3 內(nèi)存, 微軟 windows 10 版, 64位
　　1 / 4"cmos-1280×720 vga分辨率
　　150w，100-240v,，頻率范圍為47hz至63hz
　　110kg
　　平臺尺寸：10"x 10"| 行程：10"x 10"
　　高度：280mm11",，寬度：550mm22"，---：600mm24"
　　高度：750mm30",，寬度：700mm28",，---：750mm30"
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