深圳市安普檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司為您提供金屬鍍層檢測(cè)-安普檢測(cè)-鍍層金相分析檢測(cè),。鍍層是指為了儲(chǔ)藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料,，或者一層稀薄的金屬或?yàn)槟７履撤N貴重金屬,，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層,。鍍層起到提高抗腐蝕性,、增加硬度,、防止磨損及美觀等作用,。
安普檢測(cè)提供鍍層厚度檢測(cè)服務(wù),，測(cè)試方法包括：金相法,、庫(kù)侖法或x-ray方法,。具體更多檢測(cè)項(xiàng)目請(qǐng)咨詢陳：181-2654-7679
1、金相法
利用金相顯微鏡原理,，對(duì)鍍層厚度進(jìn)行放大,，以便準(zhǔn)確的觀測(cè)及測(cè)量。
2,、庫(kù)侖法
利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏?yáng)極溶解限定面積的覆蓋層,，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實(shí)質(zhì)上完全溶解，經(jīng)過(guò)所耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度,。因陽(yáng)極溶解的方法不同,，被測(cè)量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時(shí),，可由試驗(yàn)開始到試驗(yàn)終止的時(shí)間計(jì)算,；用非恒定電流密度溶解時(shí)，由累積所耗電量計(jì)算,，累積所耗電量由電量計(jì)累計(jì)顯示,。
3,、x-ray 方法
x射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束狹窄的多色x射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射,，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征,。覆蓋層單位面積若密度已知，則為覆蓋層線性厚度和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系,。該關(guān)系首先由已知單位面積的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定,。若覆蓋層材料的密度已知，同時(shí)又給出實(shí)際的密度,，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度,。
部分參考標(biāo)準(zhǔn)：
金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量輪廓儀法 gb/t 11378-2005
金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則 gb/t 12334-2001
真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法 gb/t 15717-1995
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 x射線光譜方法 gb/t 16921-2005
金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法 gb/t 17722-1999
金屬與非金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 β射線背散射法 gb/t 20018-2005
金屬和非金屬基體上非磁性金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 相敏渦流法 gb/t 31554-2015
金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法 gb/t 31563-2015
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法 gb/t 4955-2005
金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法 gb/t 6462-2005
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